汽车、航空器、医疗设备领域都需要使用洁净度很高的零件。而清洁度分析，是通过测量和分析滤膜上经过清洗后的零部件留下的污染物颗粒来实现的。
清洁度分析是在诸如VDA Vol. 19 和 ISO 16232等工业标准框架下执行的。
自动颗粒计数和显微镜分析法始于2000年，现已成为清洁度滤膜分析的主流方法。截止2012年，在欧洲约有1000台清洁度分析显微镜投入使用。有
32家实验室提供清洁度分析，包括提供采用显微镜颗粒计数的第三方服务。
为什么要推广清洁度要求？
越来越严苛的公差要求，使设备对污染物和残留物更敏感
清洁度变得与设备使用寿命息息相关
大尺寸污染物颗粒（致命颗粒）可能导致设备失效、失灵、失控
废气再循环部件需要极为光滑的（无划伤的）零件表面
噪音控制控制部件需要极为光滑的（无划伤的）零件表面
回收再利用的相关法律要求无铅产品（极为严苛的残留物要求）
在分析这些零件的清洁度之前，这些零件需要通过某种方式进行清洗（压力冲洗、超声波）。
污染物颗粒会被从零件上清洗下来，进入清洗溶剂中。这些溶剂将被过滤，所有颗粒会被过滤到滤膜上，然后进行分析。
将滤膜放入分析系统后：
－－首先选择测量参数
－－然后把滤膜数据输入至数据库，生成报告表头
－－现在开始滤膜的扫描和分析
依据VDA Bd.19和ISO16232的要求，对滤膜进行自动扫描和分析
在扫描过程中优势:
1:系统会把视场下的单张图片拼接成一张完整的滤膜的图像，
并保存在数据库中，该滤膜的完整图像将会以电子形式存档，
日后如有需要，可以随时调取后重新分析（例如，当一张滤膜
需要同时根据两种清洁度要求出完全不同的两份报告时，不需要
拿原有滤膜重新扫描，只需要模拟分析该图像，即可得到所需结
果）。在需要追溯时，该功能会变得非常实用。
2: 精确分析圆形区域的系统（如左图，红色圆形区域）
此方法可在全视场范围内，进行精确分析和判定（左侧白色矩形所示）
系统在自动扫描并保存滤膜整体图像后，开始分析图像。
分析的第一步是特有技术-均质亮度分析，该技术能确保在滤膜背景上的任意位置都有相同亮度。
此项特有技术意味着：
1：即使在如左图所示的滤膜背景明暗严重不均的情况下进
行分析，其结果不受背景影响。
2：每张滤膜的情况各不相同，但设备保证其具有均匀的背
景亮度，因此在判定时可以保证所有滤膜有相同的亮度阈值。
这样做的理由是：用户使用相同的设置和条件来扫描和分析
每一张滤膜。从而使分析结果不受人为因素影响
我们会得到滤膜上颗粒分布情况（包括滤膜上颗粒的尺寸和数量）
而且，光学显微镜的扫描结果还可以进行手动修改。
结合偏振光的作用,可以判定金属和非金属颗粒
opto的报告模板和格式可根据不同用户的公司标准和需求自由设置。
我们的标准报告模板里已经清楚的、有条理的展现了几乎所有的必要信息，用户几乎不需要修改或只做微调即可。
在这些优点和功能上的提升，使得opto的方案逐渐发展、演变成一个被广泛接受的行业标准。
