北京华欧世纪光电技术有限公司

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Xstress DR45便携式X射线残余应力分析仪

Xstress DR45便携式X射线残余应力分析仪

所属品牌:stresstech
产品系列:暂无
联系人:王丽
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审核时间:2020-09-16
有效期:737682天
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Xstress DR45便携式X射线残余应力分析仪根据的是布拉格原理,使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体。这是一种传统的方法,是测量铁素体钢Z理想的X射线衍射法,也适用于所有晶体材料(包括陶瓷)。

Xstress DR45是新一代X射线残余应力分析仪,比以往历代残余应力分析仪更快速、精度更高,提供的数据更可靠。 Xstress DR45的检测速度和准确性使残余应力测量方面大大超出了实验室范围,并进入了生产线。直观、简捷的界面的,全新支持软件与全新技术相结合,可提供无与伦比的工作效率。


Xstress DR45便携式X射线残余应力分析仪用于制造业

  • 快速测量,甚至适用于生产领域
  • 操作员易于使用的软件
  • 可用于频繁测量的模板

Xstress DR45便携式X射线残余应力分析仪用于实验室

  • 符合标准EN15305
  • 可进行多种计算,包括线性和椭圆回归,Dölle-Hauk,应力张量和主应力等功能。峰拟合功能包括互相关,抛物线,高斯,洛伦兹,修改的洛伦兹,中间洛伦兹,皮尔逊VII,伪Vogt,Voigt,质心,居中质心,重心滑动和中弦。
  • 可测量不同尺寸和形状的零件的巨大差异
  • 轻松快捷地更换X射线管


Xstress DR45便携式X射线残余应力分析仪现场使用

  • 快速组装,可在10分钟内使用
  • 衍射仪和Xstress MU的稳健设计
  • 可在不平坦的表面上进行测量;用磁脚固定在不同的位置。