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为您讲解：新一代的源测量单元技术——NI SourceAdapt技术；如何通过选择模块化源测量单元来设计多通道测试系统、实现测试成本目标；使用最新SMU技术测试各种真实的DUT，同时确保DUT的安全； 如何利用最新模块化SMU的多功能性；选择SMU的几大测量考虑，如IV范围、精确度、源测量准确度等等。更多信息见ni.com/pxi/zhs/
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