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不要错过EDI CON CHINA的5G OTA测试专家论坛

发布时间:2019-03-18 来源:中国自动化网 类型:研讨会议 人浏览
关键字:

EDI 电子设计创新大会 OTA测试

导  读:

2019年4月1日至3日在北京国家会议中心(CNCC)举办的电子设计创新大会(EDI CON CHINA)的第一天下午将举办“5G OTA测试”专家论坛。


  将于2019年4月1日至3日在北京国家会议中心(CNCC)举办的电子设计创新大会(EDI CON CHINA)的第一天下午将举办“5G OTA测试”专家论坛。与会专家将讨论哪种技术会成为最佳的5G OTA测试方法并被3GPP标准接纳。大规模MIMO、动态波束赋形以及设备和系统上缺少射频测试端口使得无连线(OTA)测试对5G部署至关重要。由于远场测量成本高且动态范围有限,该行业专家小组将讨论OTA测试的选项,如近场测量、间接远场测量和混响室技术。这些技术对5G设备和系统的生产测量非常实用。


  查看完整的会议议程:www.mwjournalchina.com/edicon/techprogram.asp


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www.mwjournalchina.com/edicon/techprogram.asp

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