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是德科技推出新款PXIe 源表模块,满足高精度、高分辨率测试应用的灵活测量需求

发布时间:2021-01-23 来源:中国自动化网 类型:产品资讯 人浏览
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是德科技 PXIe源表模块

导  读:

是德科技日前宣布,推出三款新型PXIe源表模块,旨在满足高精度、高分辨率测试应用的灵活测量需求。这些应用包括半导体以及其他非线性器件和材料的电流-电压(I-V)表征及测试。是德科技是一家领先的技术公司,致力于帮助企业、服务提供商和政府客户加速创新,创造一个安全互联的世界。

  2021年1月19日,中国北京——是德科技(NYSE:KEYS)日前宣布,推出三款新型PXIe源表模块,旨在满足高精度、高分辨率测试应用的灵活测量需求。这些应用包括半导体以及其他非线性器件和材料的电流-电压(I-V)表征及测试。是德科技是一家领先的技术公司,致力于帮助企业、服务提供商和政府客户加速创新,创造一个安全互联的世界。

  源表(SMU)是一种能够同时供电和测量的电子仪器,可以精准地施加电压或电流,同时对电压和/或电流进行精确测量。是德科技源表产品丰富多样,总体分为四个类别:精密型、特定应用型、通用型和基础型。

  是德科技此次发布的新款源表模块包括:

  ·Keysight M9601A PXIe精密型SMU模块,非常适用于要求高分辨率、高精度的各种电流电压(I-V)测量任务,如半导体、有源/无源元器件和通用电子器件的表征,以及参数/可靠性测试。凭借500 nV/10 fA的精密分辨率,这款产品可以支持最高达到210 V/315 mA的精准测量。脉冲和采样测量功能使得M9601A能够以1.25 MSa/s的采样率执行从直流到最低20μs脉冲的各种测量。

  ·Keysight M9614A和M9615A是PXIe五通道精密型SMU模块,非常适合有高通道密度要求的应用,譬如半导体可靠性测试和集成电路(IC)测试。凭借6 uV/10 pA的精密分辨率,这两款仪器可以支持最高30 V/500 mA的精准测量,并且能以更低的通道成本提供比常规PXIe四通道SMU模块更大的输出范围。这两款仪器的无缝电流测量量程调节功能省去了更改量程所需的时间,并将动态范围扩展到了四个测量量程,从而大大缩短了测试的整体耗时。

  ·Keysight M9602A和M9603A是PXIe精密型SMU模块,具有脉冲宽度窄(10μs)、输出范围大的特点,采样速率最高达到15 MSa/s。它们能为测试垂直腔面发射激光器(VCSEL)光学器件以及输出范围大、分辨率高的集成电路(IC)等大量新兴应用提供动态/脉冲测量。此外,这两款仪器的噪声低,能够支持短孔径时间测量,无缝电流测量量程调节功能省去了更改量程所需的时间,提高了测试吞吐量。

  是德科技电子行业产品副总裁Christopher Cain表示:“过去几十年以来,是德科技一直在为业界提供高精度SMU。我们的增强型台式B2900B系列源表在精度、精密性和测量吞吐量方面树立了新标杆。我们以自身深厚的SMU专业知识和最新电子技术为基础,打造出了一系列高精度PXIe模块化SMU模块。这些高密度测量SMU模块可在PXIe系统中灵活扩充,从而缩短多达25%的总体测试时间,这对于垂直腔面发射激光器件和量子计算测量具有非常重要的意义。”

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