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| 横河电机用于DRAM量产的存储器测试系统MT6111正式投放市场 | ||
| 2007-10-25 8:39:59 网友评论 条 点击查看 | ||
| 近日，横河电机有限公司宣布用于DRAM量产的存储器测试系统MT6111正式投放市场。 最新发布的MT6111系统，是市场现有的MT6060系统的改进型。和MT6060系统相比较，MT6111系统提高了测试效率，减少了将近20%的量产测试时间。MT6111系统是为占据了很大半导体市场份额的DRAM的量产而设计的高性价比存储器测试机。除测试DRAM之外，MT6111也能应用于市场需求快速增长的NAND/NOR类型闪存的测试。 系统性能 1. 并行测试 系统最大配置两个独立的测试站，最大的同测数目达到1024 DUT(MT6060产能的两倍)，因此提高了系统的性能并且增强了测试制程的产出。 2. 低成本高效率的量产测试 为了提高DRAM的测试效率并降低测试成本，MT6111的最大工作主频率达到140MHz。 3. 体积小重量轻 MT6111系统仅占据横河电机先前同类系统60%的空间，给测试制程节省了大量的空间并且有利于整体运行成本的降低。 主要特性参数 最大工作频率：140MHz 数据传输率：280Mbits每秒 同测数目：最大1024 DUT(两个测试站时) 测试站配置：2个(单个测试站亦可) 主要市场 半导体制造商和半导体测试公司 应用 半导体器件DRAM ，NAND和NOR类闪存的前道工艺晶圆测试。 |
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