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CTS-30B超声波测厚仪 CTS-30B超声波测厚仪|超声测厚仪CTS-30B性能： 强光下可清晰显示的单色液晶显示屏(带背光)，分辨率128×64像素 CTS-30B测量范围0.80 mm ~ 400.0 mm(钢)，测量分辨力 ±0.01 mm / ±0.1 m 具有配机试块自动校零或用户自定义厚度校零(单点/双点校正)等功能 可利用输入已知…
35DL超声波测厚仪 Panametrics 35DL超声波测厚仪在大多数应用中都可应用35型和35DL型 35型和35DL型超声波测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。 美国泛美超声波测厚仪系列的特性 …
奥林巴斯olympus 38DL PLUS超声波测厚仪 奥林巴斯olympus 38DL PLUS超声测厚仪：性能高级、操作简便、坚固耐用、结果可靠，olympus 38DL PLUS超声波测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。olympus 38DL PLUS超声波测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的olymp…