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HW-1693BAT是业界首款15.6’’内置Intel® CoreTM 6th Gen i7四核八线程CPU或Intel® Xeon® 八核十六线程CPU嵌入式PXIe控制器、PXIe Gen3.0高速背板、智能锂电池、高清工业显示屏和加固机箱的便携式测控平台。

是德科技日前宣布，推出三款新型PXIe源表模块，旨在满足高精度、高分辨率测试应用的灵活测量需求。这些应用包括半导体以及其他非线性器件和材料的电流-电压（I-V）表征及测试。是德科技是一家领先的技术公司，致力于帮助企业、服务提供商和政府客户加速创新，创造一个安全互联的世界。

近日，基于美国国家仪器 (National Instruments，以下简称“NI”) 的PXI源测量单元 (SMU)，专注利用人工智能驱动半导体测试测量的北京博达微科技有限公司 (简称“博达微”) 宣布推出最新基于机器学习的半导体参数化测试产品FS-Pro，……

近日，在PXI技术提出20周年之际，由NI主办的“第十四届PXI技术和应用论坛(PXI TAC)”于深圳成功召开。此次论坛NI携手近20家合作伙伴，分别在物联网(IOT)、射频与无线通信、消费电子、汽车电子以及国防科研等领域为与会工程师带来了一场丰富、精彩的以“用户为核心”的PXISHOW。

近日宣布推出NI PXIe-4081 7 1/2位数字高性能万用表和1.8MS/s的隔离数字化仪。 NI PXIe-4081是业界首台PXI Express数字万用表， 为从消费电子产品行业到航天航空与国防等各行各业的工程师开发高难度应用所需的智能测试系统提供了出色的灵活性、分辨率和隔离性能。

今日宣布推出第二代矢量信号分析仪(VST)。 NI PXIe-5840是全球第一款1 GHz带宽VST，专为解决最严苛的RF设计和测试应用需求而设计。

NI举行本次PXI TAC的主题为“更智能的系统-更智能的系统测试”，吸引了600余名行业领军人物、技术专家和相关机构代表，共同分享最新、最全、最前沿的测试领域技术干货，探讨PXI技术的发展趋势和应用案例。

2016年6月1日–NI (美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，宣布“第十三届PXI技术和应用论坛（PXI TAC 2016）”将于2016年6月16日于上海雅居乐万豪酒店举行。

美国国家仪器近日宣布推出NI PXIe-4135源测量单元(SMU)，其测量灵敏度达10 fA，输出电压高达200V。工程师可以使用NI PXIe-4135 SMU来测量低电流信号，并利用NI PXI SMU的高通道密度、高速的测试吞吐率和灵活性来实现晶圆级参数测试、材料研究以及分析低电流传感器和集成电路的特性等各种应用。

TestStand 2016可帮助全球的测试序列开发人员和架构工程师大幅提高效率。NI对客户的观点非常重视，因为他们是任何测试系统中最智慧的一部分。 结合LabVIEW系统设计软件和高性能的模块化PXI仪器，TestStand不仅大大增强了NI平台方法构建自动化测试系统的智能性，同时还拥有一个由开发者和合作伙伴组成的不断壮大的生态系统。