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硬件在环（HIL）测试系统的架构、创建硬件在环（HIL）测试系统应用、选择硬件在环（HIL）测试系统I O接口。更多硬件在环(HIL)测试信息请访问ni.com/hil/zhs/
自动化测试趋势展望》全面介绍了影响测试和测量行业的关键技术和方法。凭着对技术发展方向趋势的灵敏度，以及测试和测量市场的独特见解，总结出未来五大趋势：商业策略、系统架构、计算、软件和I/O。更多详情见ni.com/automatedtest/zhs/。
资源涉及新5G波形、网络密集化、大规模MIMO和mmWave通信将会根据时间曲线逐渐部署，它们之间并非相互排斥，而是相辅相成。更多5G信息请访问ni.com/rf/5g/
测试策略对于降低成本和最大限度提高产品开发和制造组织的效率至关重要。阅读测试执行维护、软硬件抽象层、热分析和开关等方面的最佳实践，确保您掌握构建更智能测试系统所需的基础知识，以便满足当今和未来的各种需求。通过本完整指南，了解从头到尾构建完整测试系统的推荐过程。
测试系统构建完整指南系列之一，功率预算和布局可确保所有组件正常运行，避免组件需要的功率可能要比电源可提供的功率要高这一瓶颈。 这对于如果功率不足可能危及整个系统运行的组件来说尤其重要。
测试系统构建完整指南系列之一，开关是扩展仪器通道数的一种经济实惠的选择，但并不一定是最好的选择。 了解四种不同的开关架构，确定满足您测试系统需求的最佳策略。
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