成功事例 | IC芯片浮起的稳定检测方案
发布时间:2025-05-22 10:24 类型:
应用案例 人浏览
【行业】SEMI
【设备】测试分选机
【用途】用于将IC芯片按照要求进行分类和分选
■ 需要满足设备的小型化设计,达到省空间的目的。
■ 实现对于芯片1mm浮起的稳定检测。
核心产品:智能激光传感器E3NC
■ 备有网络型放大器,方便导入并监控传感器实时状态。同时,放大器采用分离设计,既保证了检测头的体积小,也可在不同环境下调整放大器设置。
■ 1级激光光源,1m检测距离时的2mm光斑大小,确保IC芯片微小浮起的稳定检测。
本文地址:http://www.ca800.com/apply/d_1o6je865gtr65_1.html
拷贝地址
版权声明:版权归中国自动化网所有,转载请注明出处!