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成功事例 | IC芯片浮起的稳定检测方案

发布时间:2025-05-22 10:24   类型:应用案例   人浏览

应用介绍



【行业】SEMI

【设备】测试分选机

【用途】用于将IC芯片按照要求进行分类和分选

检测,设计,传感器,激光,放大器


应用场景


tray盘内IC芯片的浮起检测。

检测,设计,传感器,激光,放大器

解决课题


 需要满足设备的小型化设计,达到省空间的目的。

 实现对于芯片1mm浮起的稳定检测。

价值提案


核心产品:智能激光传感器E3NC

■ 备有网络型放大器,方便导入并监控传感器实时状态。同时,放大器采用分离设计,既保证了检测头的体积小,也可在不同环境下调整放大器设置。

检测,设计,传感器,激光,放大器

 1级激光光源,1m检测距离时的2mm光斑大小,确保IC芯片微小浮起的稳定检测。



智能激光传感器E3NC

检测,设计,传感器,激光,放大器

检测,设计,传感器,激光,放大器

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