第八届国际工业自动化与控制技术展览会暨第八届中国国际传感器、测试测量及自动化技术展览会（IAC, TME&SENSOR2004 ）于昨日在上海光大会展中心隆重召开。次此展览会将历时四天，于2004年3月20日结束。
昨天是IAC, TME&SENSOR2004 开幕的第一天，美国国家仪器有限公司主持的“基于计算机的测量和自动化研讨会”于17日下午13：30---16：30在光大11号厅举行，NI的工程师向我们介绍基于计算机的测量和自动化系统软/硬件构架，演示NI产品是如何与普通PC和工业计算机结合在一起构建起符合用户特定需要的测控需要的测控系统，并在PC上进行数据记录、分析和显示。
研讨会主要内容有：基于计算机的测量和自动化系统介绍；系统开发软件介绍；LabVIEW, LabWindows/CVI, Measurement Studio;系统开发硬件介绍；GPIB仪器控制，DAQ数据采集，SCXI信号调理，分散式数据采集方案FieldPoint, PXI/CompactPCI模块化仪器系统；基于PC的机器视觉/运动控制系统；测试执行管理软件TestStand介绍等。
