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NI举办虚拟仪器技术研讨会

发布时间:2006-03-08 11:33     新闻类型:培训资讯      人浏览
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    3月7日下午,NI举办了一场基于计算机的测量与自动化系统的研讨会,吸引了众多行业用户的参与。
  

    这次研讨会首先由NI广州区域工程师顾捷先生讲解,他热情洋溢的为来宾详细讲解了NI最新的技术和产品的情况。紧接着,泛华测控DAQ事业部经理赵晓宇先生上台演讲,他主要从三个方面讲解了NI的产品、技术和DAQ的品质保证。他首先向来宾介绍了OEM客户成功的案例,接着向来宾讲解了NI用什么确保客户成功的条件。其中特别提到了NI全新的数据采集产品,NI USB数据采集产品、NI最新的M系列设备采集技术,包括:NI-STC2:系统定时控制器、NI-PGIA2:专用放大器。据他介绍,NI的数据板卡具有多功能、应用多的特点,使扫描的速度更高。赵先生还说,NI最近推出了一套最佳的解决方案----NI开发的软件+NI数据采集卡,吸引了众多的来宾的目光。最后,他向来宾介绍了DAQ的品质保证,包括:他们会提供客户高性价比的产品、会为OEM客户批量的折扣、会为客户提供专业测试解决方案和技术支持以及帮助OEM客户开拓市场等,赢得了在场用户的一致好评。
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    此次研讨会效果不错,会后很多用户留下来向他们询问了NI的最新近况和相关的产品和技术,NI此次研讨会获得了圆满的举办。





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