激光位移传感器测厚传感器ZLDS113的测量原理如下图所示：
ZLDS113三角形测量原理
基本原理是光学三角法：
半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射光被镜片③收集，投射到CMOS阵列④上；信号处理器⑤通过三角函数计算阵列④上的光点位置得到距物体的距离。实物图如下所示：
测厚传感器的主要特点是在测量过程中，不需要测量出材料厚度的绝对尺寸，而只需知道测量厚度的相对值或者相对于一个标准值的厚度。
ZLDS113传感器实物图
测厚传感器主要特点：
◆分辨率最高可达1um，线性度最高3um；
◆测厚系统：2个传感器成对安装，能自动主从识别，构成测量仪，进行在线厚度、宽度等实时测量,无需控制器；
◆实时可编程功能：数值计算、数字传输速度、模拟设置、滤波器等；