苏州西博三维科技有限公司

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数字散斑全场应变变形测量分析系统

数字散斑全场应变变形测量分析系统

分类:测量测试仪器
品牌:XJTOP
厂商:苏州西博三维科技有限公司
型号:XTDIC
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发布时间:2017-12-22 16:42
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产品详情


XTDIC — 数字散斑全场应变变形测量分析系统

XTDIC数字散斑全场应变变形测量分析系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高、易操作等特点。与双目体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量。

数字散斑全场应变变形测量分析系统

应用范围

  • 应变计算、强度评估、组件尺寸测量、非线性变化的检测

  • 先进材料(CFRP、木材、内含PE的纤维、金属泡沫、橡胶等)

  • 零部件试验(测量位移、应变)

  • 材料试验(杨氏模量、泊松比、弹塑性的参数性能)

  • 生物力学(骨骼、肌肉、血管等)

  • 微观形貌、应变分析(微米级、纳米级)

  • 断裂力学性能

  • 有限元分析(FEA)验证

  • 三维全场振动分析

  • 高速变形测量

  • 动态应变测量,如疲劳试验

  • 谐振、冲击和噪声激励

  • 蠕变和老化过程的特性分析

  • 成形极限曲线FLC测定

  • 各种各向同性和各向异性材料变形特性








功能特色

  • 系统技术先进:国内自主研发的数字图像相关法三维变形测量系统;自主知识产权的核心算法,技术指标达到国外先进水平。

  • 系统应用范围广:可用于机械、材料、力学、建筑、土木等多个学科的科学研究与工程测量中,适用于大部分材料,实时获得被测物全场三维坐标、位移、应变数据。

  • 系统配置灵活:支持几毫米到几米的测量幅面;支持百万至千万像素相机,支持低速到高速相机,支持千兆网和Camera Link等多种相机接口;支持任意数目相机的同时标定,支持外部图像标定,。

  • 系统兼容性强:同时兼容单相机二维测量和多相机三维测量;兼容32位、64位系统。

  • 辅助功能强大:具备圆形标志点动态变形测量功能;具备刚体物体运动轨迹姿态测量功能。

  • 扩展接口丰富:具备万能试验机接口,实时采集试验机的力、位移等信号;具备杯突实验机接口,可以测量材料的FLC曲线;具备体式显微镜接口,可以实现微小型物体的三维全场变形应变检测;支持多相机组同步测量,可以同步测量多个区域的变形应变;系统具备多路A/D输入、多路D/A输出、多路开关量输入和输出,并可灵活进行扩展。


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