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测试系统构建完整指南系列之一，开关是扩展仪器通道数的一种经济实惠的选择，但并不一定是最好的选择。 了解四种不同的开关架构，确定满足您测试系统需求的最佳策略。

测试系统构建完整指南系列之一，理解测试执行软件的目的和核心功能以及如何实现测试执行程序的自动化以及简化大型测试系统。 通过三种不同的应用场景，了解自行开发执行程序以及使用商用现成解决方案对部署和维护测试系统效率和成本的影响。

测试系统构建完整指南系列之一，硬件和测量抽象层是有效的设计模式，可使测试软件适应不同的硬件。 与测试序列采用针对特定设备的代码模块不同，抽象层可将测量类型和针对特定仪器的驱动程序与测试序列分离。 了解如何通过让软硬件工程师并行工作来大幅缩短开发时间。

测试系统构建完整指南系列之一，热会影响测量质量和测量系统可靠性，但这一因素通常会被忽略。 了解设计机架式测量系统的基本设计方法以及热建模工具。

测试系统构建完整指南系列之一，在构建自动化测试系统时，您可以使用的主要工具是测量仪器。 了解可用仪器的主要类别和常见的选择标准，以帮助您缩小应用的最佳选择范围。

测试系统构建完整指南系列之一，了解评估测试组织所需的工具和信息，有助于评估测试机构，提出可大幅节省成本的建议，以及通过更明智的投资决策提高贵公司的盈利能力，成功开发自动化功能测试系统。

测试系统构建完整指南系列之一，大规模互连系统是专为简化来自或送往DUT或DUT连接件的大量信号的连接而设计的机械结构。 了解如何选择一个合适的大规模互连系统， 并设计适当的连接件，将DUT无缝地连接到系统的其余部分。

测试系统构建完整指南系列之一，理想的系统永远不会出现故障。 不幸的是现实并非如此（至少尚未实现）。 突发的意外故障可能会带来高额的损失。 即使有最周全的计划，我们也不能完全消除故障的风险，但我们可以减少这些风险。 确保您采用正确的维护策略，以便在出现问题时降低成本和故障风险。

为您讲解：新一代的源测量单元技术——NI SourceAdapt技术；如何通过选择模块化源测量单元来设计多通道测试系统、实现测试成本目标；使用最新SMU技术测试各种真实的DUT，同时确保DUT的安全； 如何利用最新模块化SMU的多功能性；选择SMU的几大测量考虑，如IV范围、精确度、源测量准确度等等。

这一实用指南包含推荐的系统架构、真实的范例、测试工程基础知识以及最佳开发实践，了解用于自动化测试的PXI标准平台的基础知识，帮助您借助NI的软件和硬件开发软件定义的测试系统。本指南内容是由NI客户咨询委员会中业界顶尖的测试工程团队以及NI产品研发和测试工程团队共同编写而成的。